SN74BCT8374ADWRE4
Número de pieza:
SN74BCT8374ADWRE4
Fabricante:
TI
Descripción:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Estado Libre de plomo / Estado RoHS:
Sin plomo / Cumple con RoHS
Cantidad disponible:
62580 Pieces
El tiempo de entrega:
1-2 days
Ficha de datos:
SN74BCT8374ADWRE4.pdf

Introducción

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Especificaciones

Condición New & Unused, Original Packing
Origen Contact us
Tensión de alimentación:4.5 V ~ 5.5 V
Paquete del dispositivo:24-SOIC
Serie:74BCT
embalaje:Tape & Reel (TR)
Paquete / Cubierta:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Temperatura de funcionamiento:0°C ~ 70°C
Número de bits:8
Tipo de montaje:Surface Mount
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL):1 (Unlimited)
Tipo de lógica:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Estado sin plomo / Estado RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Descripción detallada:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
Número de pieza base:74BCT8374
Email:[email protected]

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